1 Servo test
伺服测试
|--------------------------------------------------------|
1.1| The testimg procedure will destroy all user data drive |
| 这个测试程序将破坏驱动器的全部使用数据 |
| test starting cylinder : xxxxxxxx |
| 测试开始的柱面 : xxxxxxxx |
| test ending cylinder : xxxxxxxx |
| 测试结束的柱面 : xxxxxxxx |
| place defecfs to : P-List |
| 放置坏道到 : P-List 空格健变换P-List和Glist |
| limit fo grouping into cylinders : 23757 |
| 一个柱面超过多少个坏道就封闭 : |
|--------------------------------------------------------|
2 Surface test
表面测试(物理测试)
2.1 |--------------------------------------------------------|
| test starting cylinder : xxxxxxxxxx |
| 测试开始的柱面 : xxxxxxxxxx |
| test ending cylinder : xxxxxxxx |
| 测试结束的柱面 : xxxxxxxx |
| number of passes : 3 |
| 通过的次数 : 3 (可在1-x之间选择,默认是3) |
|number of retry of a defect : 3 |
| 一个坏道重复测试的次数 : 3(可在1-x之间选择,默认是3)|
| critical time test (ms): 300 |
| 测试的临界时间(毫秒):300 (意思是停顿多少毫秒就视为坏道)|
| perform writing test : NO |
| 执行写测试 : NO/YES (N)不是 (y)是 默认是(N) |
|use all heads while testing : yes |
|当测试的时候使用全部的磁头 : yes (y)是 (n)是 默认是(yes)|
| limit fo grouping into cylinders : 232767 |
| 一个柱面超过多少个坏道就封闭 : |
|--------------------------------------------------------|
3: Disc firmware zone
碟片的固件地区
3.1 Work with the rom
对 ROM 工作
3.1.1 Review of the disc firmware zone in the ROM
检看碟片固件地区的 ROM 版本信息
3.1.2 Read ROM to file
读 ROM 文件
3.1.3 Write ROM from file
写 ROM 文件
3.1.4 Supported ted ROMS
支持的ROM的所有型号
3.2 work with disc firmware zone
对碟片固件地区工作
3.2.1 Checking of disc firmware structure
检查碟片固件结构
3.2.2 disc firmware data writing/reading
碟片固件数据写/读
3.2.2.1 Exrtact MP from BASE <-|
从基地提取 MP
3.2.2.1.1 writing to disc drive <-
写硬盘
3.2.2.1.1 writing of modules
写模块
3.2.2.1.2 configuration pages writing
写结构页
3.2.2.1.2 writing to folder
写文件夹
3.2.2.2 Add MP to BASE
添加 MP 数据库
3.2.2.3 Delete MP from BASE
从数据库册除 MP
3.3.3 Reading of the modules
读模块
3.3.4 Writing of the modules
写模块
3.3.5 Regen translator
再生变换器
3.3.6 Security subsystem
安全子系统
3.3.8.1 show security information
显示安全信息
3.3.8.2 Clear passwords
清除密码
3.2 software hesds switching off
用软件关闭磁头
3.3 spindle stop
主轴停转
3.4 work with adaptives
4: Disc ID
硬盘的身份(变硬盘的型号和容量)
5: Formatting
低级格式化
6: Logical scanning
逻辑扫描
6.1 |---------------------------------------------------------|
| initial LBA position : x |
| 初始 LBA 位置 : X |
| final LBA position : xxxxxxxxxxxx |
| 结束的 LBA 位置 : xxxxxxxxxxxx |
| reversive scanning : NO |
| 从后面向前面扫描 : NO 键入(Y)就从后面向前面扫描 |
| number of passes : 3 |
| 通过的次数 : 3 (可在1-x之间选择,默认是3) |
| number of retry of a defect : 3 |
| 一个坏道重复测试的次数 : 3(可在1-x之间选择,默认是3) |
| critical time test (ms): 300 |
| 测试的临界时间(毫秒):300 (意思是停顿多少毫秒就视为坏道) |
| perform writing test : NO |
| 执行写测试 : NO/YES (N)不是 (y)是 默认是(N) |
| verify instead of reading : yes |
| 校验代替读 : yes |
|---------------------------------------------------------|
7: S.M.A.R.T. table
S.M.A.R.T 表
7.1 to review S.M.A.R.T. table
观察 S.M.A.R.T 表
7.2 S.M.A.R.T. parameters reset
复位 S.M.A.R.T. 参数
7.3 to load S.M.A.R.T. (external module)
加载 S.M.A.R.T. (外部模块)
8: Defects table
坏道表
7.1 to review defects teble
观察坏道表
7.2 Add LBA defects
按 LBA 添加坏道表
7.3 Add LCHS derects
按柱面/磁头/扇区/长度添加坏道
7.4 Add physical sector
按物理扇区添加
7.5 Add physical tracks
添加物理磁道
7.6 Group into tracks
封闭磁道
7.7 import of logical defects table
逻辑坏道表的输入
7.8 Erase defects table
删除坏道表
9: Automatic mode
自动化模式
10:EXIT
退出
PC3000 Vre.12 昆腾系列和迈拓(LE VQ)Ver 2.32 主菜单说明
1 Servo test
伺服测试
|--------------------------------------------------------|
1.1| The testimg procedure will destroy all user data drive |
| 这个测试程序将破坏驱动器的全部使用数据 |
| test starting cylinder : xxxxxxxx |
| 测试开始的柱面 : xxxxxxxx |
| test ending cylinder : xxxxxxxx |
| 测试结束的柱面 : xxxxxxxx |
| place defecfs to : P-List |
| 放置坏道到 : P-List 空格健变换P-List和Glist |
| limit fo grouping into cylinders : 64 |
| 一个柱面超过多少个坏道就封闭 : 64 (可以是2-63) |
|--------------------------------------------------------|
2 Surface test
表面测试(物理测试)
2.1 |--------------------------------------------------------|
| test starting cylinder : xxxxxxxxxx |
| 测试开始的柱面 : xxxxxxxxxx |
| test ending cylinder : xxxxxxxx |
| 测试结束的柱面 : xxxxxxxx |
| number of passes : 3 |
| 通过的次数 : 3 (可在1-x之间选择,默认是3) |
|number of retry of a defect : 3 |
| 一个坏道重复测试的次数 : 3(可在1-x之间选择,默认是3)|
| critical time test (ms): 300 |
| 测试的临界时间(毫秒):300 (意思是停顿多少毫秒就视为坏道)|
| perform writing test : NO |
| 执行写测试 : NO/YES (N)不是 (y)是 默认是(N) |
|use all heads while testing : yes |
|当测试的时候使用全部的磁头 : yes (y)是 (n)是 默认是(yes)|
| place defects to : P-List |
| 放置坏道到 : P-List 空格健变换P-List和Glist |
| limit fo grouping into cylinders : 64 |
| 一个柱面超过多少个坏道就封闭 : 64 (可以是2-63) |
|--------------------------------------------------------|
3: Disc firmware zone
碟片的固件地区
3.1 Work with the rom
对 ROM 工作
3.2 work with disc firmware zone
对碟片固件地区工作
3.2.1 Checking of disc firmware structure
检查碟片固件结构
3.2.2 disc firmware data writing/reading
碟片固件数据写/读
3.2.2.1 Exrtact MP from BASE <-|
从数据库提取 MP
3.2.2.1.1 writing to disc drive <-
写硬盘
3.2.2.1.1 writing of modules
写模块
3.2.2.1.2 configuration pages writing
写结构页
3.2.2.1.2 writing to folder
写文件夹
3.2.2.2 Add MP to BASE
添加 MP 到数据库
3.2.2.3 Delete MP from BASE
从数据库册除 MP
3.2.3 Configuration pages reading
构造页读
3.3.4 Configuration pages writing
构造页写
3.3.5 Reading of the modules
读模块
3.3.6 Writing of the modules
写模块
3.3.7 Detailed COM log
详细 COM log
3.3.8 Security subsystem
安全子系统
3.3.8.1 show security information
显示安全信息
3.3.8.2 Clear passwords
清除密码
3.3 Configuration changing
改变内部构造
3.4 Load LDR-file to disc RAM
加载 LDR 文件到碟片的 RAM
3.5 spindle stop
主轴停转
4: Disc ID
硬盘的身份(变硬盘的型号和容量)
5: Logical scanning
逻辑扫描
5.1 |---------------------------------------------------------|
| initial LBA position : x |
| 初始 LBA 位置 : X |
| final LBA position : xxxxxxxxxxxx |
| 结束的 LBA 位置 : xxxxxxxxxxxx |
| reversive scanning : NO |
| 从后面向前面扫描 : NO 键入(Y)就从后面向前面扫描 |
| number of passes :3 |
| 通过的次数 : 3 (可在1-x之间选择,默认是3) |
| number of retry of a defect : 3 |
| 一个坏道重复测试的次数 : 3(可在1-x之间选择,默认是3) |
| critical time test (ms): 300 |
| 测试的临界时间(毫秒):300 (意思是停顿多少毫秒就视为坏道) |
| perform writing test : NO |
| 执行写测试 : NO/YES (N)不是 (y)是 默认是(N) |
| verify instead of reading : yes |
| 校验代替读 : yes |
| place defecfs to : P-List |
| 放置坏道到 : P-List 空格健变换P-List和Glist |
|---------------------------------------------------------|
6: S.M.A.R.T. table
S.M.A.R.T 表www.jb51.net(潘少俊衡)
6.1 to review S.M.A.R.T. table
观察 S.M.A.R.T 表
6.2 to load S.M.A.R.T. (external module)
加载 S.M.A.R.T. (外部模块)
6.3 S.M.A.R.T. parameters reset
复位 S.M.A.R.T. 参数
7: Defects table
坏道表
7.1 to review defects teble
观察坏道表
7.2 Add LBA defects
按 LBA 添加坏道表
7.3 Add physical sector
按物理扇区添加
7.4 Add physical track
按物理磁轨添加
7.5 Grouping defects into tracks
封闭坏道到磁轨里
7.6 import of logical defects table
逻辑坏道表的输入
7.7 Erase defects table
删除坏道表
7.8 Defects table export
坏道表输出
7.9 Defects table import
坏道表输入
7.10 Work with module 06h
对06h 模块工作
8: Automatic mode
自动化模式
9: SELFSCAN
自我扫描
9.1 condition viewing
条件观察
9.2 load selfscan
加载自我扫描
9.3 start selfscan
起动自我扫描
9.4 stop selfscan
停止自我扫描
10:EXIT
退出
PC3k-WD (EB AB BB JB DA)的主菜单说明 Ver 1.5
1: служе бная эона
硬盘固件区
1.1 рабта со служе бной эоной
固件地区
1.1.1 проверка поверхности служебной
эоны
硬盘固件表面测试
1.1.2 проверка структуры служебной ин
формации
硬盘固件结构测试及观察
1.1.3 эаписьутение служебной информа
ции
硬盘固件数据读写
1.1.3.1 эаписать мпиэбдэы налиск
写fw到硬盘
1.1.3.2 лобавить мпвбдэу
添加fw到数据库
1.1.3.3 улалить мпиэбдэы
删除fw数据库
1.1.4 чтение модпей
读模块
1.1.5 эапись модчпый
写模块
1.1.6 очистка слчжебной эоны
清除固件范围
1.1.7 йэменть spt слчжебной обпасти
改变伺服范围
1.1.8 подсистема беэопасности
安全子系统
1.2 работа странслятором
变换器操作
1.3 останов шпинделя
主轴停转
1.4 иэмение временного масштаба
改变时间等级
2: паспортдиска
驱动器描写（改硬盘容量）
3: форматирование
内部低格
3.1 сучетом plist и glist
考虑plist和gilst
3.2 сучетом plist
考虑plist
3.3 сучеом glist
考虑glist
3.4 беэучета plist и glist
plist和glist二者都不考虑
4: логическое сканирование
逻辑扫描缺陷
4.1|------------------------------------------|
| start LBA : x |
| 开始 LBA : X |
| End LBA : xxxxxxxx |
| 结束 LBA : XXXXXXXX |
| passes : 3 |
| 通过的次数: 3 |
| carefulness index : 3 |
| 仔细指标 |
| perfrom writing test : NO |
| 按照写测试 |
| verification instead of reading : yes |
| 校验代替读 |
|------------------------------------------|
5: таблицадефектов
s.m.a.r.t 表
6: табпица дефектов
坏道表
6.1 просмотреть таблиц
观察坏道表
6.2 добавить фиэическй трек
添加物理磁道
6.3 импортлот. таблицы дефектов
输入逻辑坏道表
6.4 очистить таблицу дефектов
清除坏道表
6.5 перенести g-list в p-list
g表转p表
6.6 струппировать в треки
封闭磁道
7: Aвтоматический режим
自动模式
8: выход
退出
PC3k-WD (EB AB BB JB DA)的主菜单说明
1: Disk firmware zone
磁盘固件地区
1.1 Disk firmware zone
磁盘固件地区
1.1.1 disk firmware surface test
硬盘固件表面测试(硬盘固件物理测试)
1.1.2 disk firmware structure test
硬盘固件结构测试及观查
1.1.3 disk firmware data read/write
硬盘固件数据读/写
1.1.3.1 write FW to the disk
写FW到硬盘
1.1.3.2 Add FW to the DATABASE
添加FW到数据库
1.1.3.2 Remove FW the DATABASE
册除FW数据库
1.1.4 Read modules
读模块
1.1.5 write modules
写模块
1.1.6 Erase firmware area
清除固件范围
1.1.7 Change Servo Area SPT
改变伺服范围
1.1.8 Security subsystem
安全子系统
1.2 Translator operations
变换器操作
1.3 Spindle stop
主轴停转
1.4 Change time scale
改变时间等级
2: drive description
驱动器描写(改硬盘容量）
3: Formatting
低级格式化
3.1 Take into account PList and GList
考虑 PList和GList
3.2 Take into account PList
考虑 PList
3.3 Take into account GList
考虑 GList
3.4 Do not Take into account neither PList and GList
PList 和 GList 两者都不考虑
4: Logical structure scaning
逻辑结构扫描
4.1 |------------------------------------------|
| start LBA : x |
| 开始 LBA : X |
| End LBA : xxxxxxxx |
| 结束 LBA : XXXXXXXX |
| passes : 3 |
| 通过的次数: 3 |
| carefulness index : 3 |
| 仔细指标 |
| perfrom writing test : NO |
| 按照写测试 |
| verification instead of reading : yes |
| 校验代替读 |
|------------------------------------------|
5: S.M.A.R.T. table
S.M.A.R.T. 表
6: Defects table
坏道表
6.1 View defects table
观察坏道表
6.2 Add physical track
添加物理磁道
6.3 import logical defects table
输入逻辑坏道表
6.4 clear defects table
清除坏道表
6.5 move G-List to P-List
G-List 转 P-List
6.6 Group to tracks
封闭磁道
7: Automatic mode
自动模式
8: Exit
退出
潘少俊衡站长注：本文为网络收集整合，作者未知，如作者看到或者有知情者，请发布评论注明姓名，我们将予以添加。谢谢支持。
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